愛德萬全新T2000 8GWGD測試設備
愛德萬全新T2000 8GWGD測試設備
2013/07/15-張琳一 半導體測試設備領導者愛德萬測試日前推出全新T2000 8GWGD測試設備，提供結合每秒採樣速率達8千兆(Gsps)的波形產生器和8 GHz數位器之模組，可應用於HDD硬碟等巨量儲存裝置中的系統單晶片(SoC)測試。
愛德萬測試SoC事業資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示，在SoC測試領域，愛德萬測試一直是業界領導者，現今全球所生產的SoC中有半數以上都是採用愛德萬的設備進行測試。如今面對一日千里的雲端運算市場，客戶可透過這套全新測試機台駕馭雲端運算數十億顆硬碟、全球無可計數的伺服器陣列。
T2000測試機台提供8GWGD (8Gsps波形產生器與8GHz數位器模組)與8GDM (8Gbps數位模組)，可處理儲存巨量資料的SoC內部高速SerDes實體層(PHY)介面與複雜高速的類比波形挑戰。
這套新模組可透過任意波形產生器(AWG)產生PRML(Partial Response Maximum Likelihood，最大回應可能可能性)波形等複雜訊號，及多種頻率的多頻波形，測試高速類比轉數位轉換器和類比前端設備(包括前置放大器)。其獨特之處在於閘輸出可與AWG同步化，實現高精準度計時。
此套新模組的訊號擷取數位器可提升系統產能、執行高頻寬類比量測，同時也為眼圖、上升/下降時間、時間傳播延遲量測、週期抖動(Cycle-to-Cycle Jitter)和累積性抖動(Long-Term Jitter)提供測試解決方案。透過這些功能，客戶將能測試高速數位轉類比轉換器和前置放大器，及高速數位介面和鎖相迴路(PLL) 設備。
DIGITIMES中文網 原文網址: 愛德萬全新T2000 8GWGD測試設備 http://www.digitimes.com.tw/tw/dt/n/shwnws.asp?cnlid=13&cat=10&id=0000341722_0066HXHD3EXFW415SV2YT#ixzz2ZG6omZCR
