2015-08-17
半導體界盛事 NI 8/27分享測試必知重要技術
半導體界盛事 NI 8/27分享測試必知重要技術
2015/08/17-李佳玲 近年來智慧型手機、穿戴式裝置於全球消費性電子界掀起熱潮，背後最大的推手即是半導體技術的演進。然而，新製程與設計卻讓半導體複雜性更高，需要橫跨無線晶片組、MEMS、記憶體、微處理器等多樣領域。因此，降低毛利、縮短製造週期以奪得上市先機，便是讓半導體製造商取得成功的關鍵之一。
有鑑於此，NI國家儀器將於8月27日於新竹愛因斯坦國際科技經貿中心 3 樓，舉辦「半導體測試暨IC驗證技術研討會」，研討會將介紹透過PXI平台具備的開發彈性，提供開放式架構ATE，輕鬆解決混合式訊號測試困難，並針對不同議題作案例分享，讓您了解當今半導體測試必知的重要技術。
活動焦點包括：
1. 透過開放式架構測試縮短產品EVT到PVT的測試開發流程。
2. 創新的高速序列與邏輯分析技術，降低系統成本並應用到量產測試。
3. 先進的高精準電源供應與量測技術，取得更完整的半導體元件特性測試結果。
4. 業界針對 RFIC、CIS 與 LED 的測試實務分享。
DIGITIMES中文網 原文網址: 半導體界盛事 NI 8/27分享測試必知重要技術 http://www.digitimes.com.tw/tw/dt/n/shwnws.asp?cnlid=13&cat=10&id=0000438603_7RK7G3TML8E7J945UESLN#ixzz3j1umeIpH
