DA-Integrated導入愛德萬測試系統
DA-Integrated導入愛德萬測試系統
2015/08/28-魏君頤 全球積體電路開發管理服務領導者DA-Integrated宣布，日前已完成安裝愛德萬測試V93000 Smart Scale系統單晶片(SoC)測試系統。DA-Integrated選擇V93000 Smart Scale系統主要看中其效能與可擴充性，且其廣為晶圓封測代工廠採用，且能與既有P1000測試系統相容。
P1000系統原為惠瑞捷旗下產品，該公司已於2011年由全球半導體產業最大自動化測試設備供應商愛德萬測試所購併。
DA-Integrated工程部副總裁Scott Bulbrook表示：「在DA-Integrated，我們提供獨一無二的測試開發服務，為客戶設計並導入測試架構與客製化的植入自我測試 (built-in self-test，BIST) 電路，滿足先進節點SoC元件測試需求。對我們來說，透過V93000 Smart Scale系統的SmarTest軟體，使我們的驗證環境緊密地與ATE測試程式整合，在V93000 Smart Scale系統上進行生產測試是絕佳的選擇。」
愛德萬測試SoC產品事業資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示：「我們與DA-Integrated已攜手合作數年，也成功地為半導體業者提供經實證的測試方案，解決其工程開發到大量生產的測試難題。DA-Integrated再次購置V93000平台，更進一步肯定了V93000平台所展現的先進效能。在結合DA-Integrated全方位IC設計與測試開發服務下，整套解決方案將可協助客戶加速產品上市時程，並以最低測試成本達到極高錯誤涵蓋率。」
DIGITIMES中文網 原文網址: DA-Integrated導入愛德萬測試系統 http://www.digitimes.com.tw/tw/dt/n/shwnws.asp?cnlid=13&cat=10&id=0000439493_U0Q5WH0F83K5254KWUYXO#ixzz3k4GmioRz
