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2010-11-30

橫河電機將於SEMICON Japan展出高速介面FPD驅動IC測試系統

2010/11/30-張琳一
 
橫河電機株式會社日前宣布已開發完成高速介面FPD驅動IC測試系統ST6731,並將在2010年12月1日於日本幕張展覽會場所舉辦的SEMICON Japan 2010展覽展出產品。ST6731高速介面FPD驅動IC測試系統承續客戶好評ST6730的基本規格,並具備高速介面測試能力,資料傳輸速度超過2Gbps,屬高階FPD測試系統,該款測試系統預定2011年3月開始銷售。
 
橫河電機表示,因應3D電視出現,平板顯示面板尺寸變得越來越大,畫面解析度越來越高。另外,智慧型手機(高階行動電話)等行動通信畫面也往高解析度發展。因此Driver IC需要從一定時間內的處理資料量大增至高速資料處理。為了因應此狀況,現在的Driver IC測試系統為提升測試效率,資料傳輸速度均被要求具有2Gbps以上高速介面測試能力,此次開發的ST6731正是迎合此高速介面需求之測試系統。另外,現有ST6730用戶也可透過升級系統得到支援高速介面的測試功能。
 
ST6731資料傳輸速度可達2.52Gbps,可測試超過2.5Gbps Driver IC高速介面,並因應3D電視Driver IC高速介面測試進行支援。現有ST6730使用者只需針對部分硬體和軟體進行升級,即可得到對應高速介面測試功能因應機型,因系統本體及其附屬裝置可繼續使用,比起重新購買高速介面測試系統只需1/3投資費用,而且可直接在原有狀態下進行升級,縮短Driver測試系統的停用時間。


Device輸出信號測定有2種, 為確定FPD表示顏色數灰階測試為向Device輸入信號,測定從Driver IC所輸出的信號。ST6731有增加此功能因應至今尚無法直接從Device測定資料輸出信號的技術,讀取保存於Driver IC的影像記錄資料,並判斷此輸出信號之精度。


ST6731可應用於智慧型手機、薄型電視、3D電視等驅動IC製造商、及承接其外包測試量產之專業測試代工廠,做為FPD顯示驅動IC的晶片測試(Wafer Test)、FT測試(Final Test)。橫河電機預估ST6731銷售目標(含海外)2011年度60台、2012年度120台。

 

 

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